金相测厚
使用设备为金相显微镜。
此方法适用于测量厚度>1μm的金属膜层,可测量多层。
被测样品需要经垂直于待测膜层取样进行金相制样,再在金相显微镜下观察并拍照测量待测膜层厚度。
参考标准:GB/T 6462, ISO 1463,ASTM B487
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检测流程:电话/网上咨询-填写测试申请表-送样检测/上门取样检测-检测周期3-5日-签约付款-领取报告
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