XRF方法通常非常稳定，广泛适用于电镀应用。
将产品镀层面放到仪器探测区，通过产生元素的荧光X射线进行定性定量。该方法快速，费用低，且无损。缺点是无法测试多层结构的镀层产品，且X射线穿透能力强，对于薄镀层（<3um）会穿透到基材，无法分辨基材信号还是镀层信号。只能通过人工经验判定。
参考标准：
GB/T 16921, ISO 3497,ASTM B568
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